DFT,dft是什么

DFT是design for testability（可测试性技术）的缩写。

DFT是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。DFT的理念基于结构化测试（分治法），它并不是直接对芯片的逻辑功能进行测试来确保功能正常。而是尽力保证电路之间的低层级模块和它们之间的连接正确。

电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能在测试阶段节约更多的时间和金钱。

相关信息

DFT的关键也就在于取舍，测试逻辑的代价和效果的平衡。核心目的在于提高Observability 和Controllability。DFT主要负责制造时产生的缺陷检测，逻辑上的错误鞭长莫及。具体例子就是芯片挑体质。

在RTL设计阶段开始介入，设计插入DFT逻辑，设计并验证测试向量（功能仿真），综合时序也要收敛，得到芯片后进行机台调试。

DFT（离散傅里叶变换）一般指离散傅里叶变换。

离散傅里叶变换（Discrete Fourier Transform，DFT）傅里叶分析方法是信号分析的最基本方法，傅里叶变换是傅里叶分析的核心，通过它把信号从时间域变换到频率域，进而研究信号的频谱结构和变化规律。

物理意义

设x(n)是长度为N的有限长序列，则其傅里叶变换，Z变换与离散傅里叶变换分别用以下三个关系式表示：

X(e^jω)= ∑n={0,N-1}x(n) e^j-ωn。

X(z)= ∑n={0,N-1}x(n)z^-n。

X(k)= ∑n={0,N-1}x(n) e^-j2πkn/N。

单位圆上的Z变换就是序列的傅里叶变换。

离散傅里叶变换是x(n)的频谱X(ejω)在[0,2π]上的N点等间隔采样,也就是对序列频谱的离散化,这就是DFT的物理意义。